电子元器件筛选

电子元器件筛选

专业电子元器件筛选服务,覆盖集成电路、分立器件、电源模块、射频微波器件等。提供三温测试、老炼、PIND、X-ray/SAT检查,依据GJB/MIL标准,从源头提升装备可靠性。点击咨询!

服务范围

半导体集成电路:可编程逻辑器件、微处理器、 控制器、单片机、数模转换器(A/D、D/A、SRD)、总线接口类(RS-232、RS-422/485、LVDS、CAN、PCI等)、存储器系列(EPROM、SRAM、DRAM、MRAM、DDR、FLASH、NOR FLASH、NAND FLASH、FIFO等)、电源类芯片(稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等)、定时器、时钟发生器、缓冲器、驱动器、电平转换器、门器件、触发器、运算放大器、电压调整器、电压⽐较器、模拟开关、多路复用器等;

混合集成电路:电源模块(AC/DC、DC/DC)、专用模块

射频微波器件:滤波器、衰减器、功分器、隔离器、耦合器、放大器、混频器、射频开关

半导体分立器件:二极管、三极管、场效应管、达林顿阵列、光耦、可控硅、IGBT等;

元件:电阻器、电容器、电感器、磁珠、变压器;

机电类:继电器、接触器、开关及面板元件、连接器、电线电缆

晶体谐振器、晶体振荡器

检测标准

●GJB7243-2011军用电子元器件筛选技术要求

●GJB128B-2021半导体分立器件试验方法

●GJB360B-2009电子及电气元件试验方法

●GJB548C-2021微电子器件试验方法和程序

●QJ10003—2008进口元器件筛选指南

●MIL-STD-750D半导体分立器件试验方法

●MIL-STD-883G微电子器件试验方法和程序

检测项目

●外观检查;

●电性能测试:常温测试、高温测试、低温测试;

●温度应力试验:低温贮存、高温贮存、温度循环、温度冲击;

●机械应力试验:恒定加速度、跌落、随机振动、扫频振动等;

●老炼:高温反偏老炼、功率老炼、恒流老炼、间歇寿命老炼、高/低温运行等;

●密封(粗检漏、细检漏 )、粒子碰撞噪声检测(PIND);

●扫描声学显微镜检查;

●X射线照相检查。

相关资质

实验室已获得专业的检测资质认可(CNAS、CMA),质量管理体系完善,确保所有筛选数据的准确性、可重复性与权威性。出具的检测报告在行业内具有高度公信力,可为客户的元器件质量保证提供有力支撑。

测试周期

常规7-10个工作日

服务背景

电子元器件是装备的关键原材料,元器件筛选是提升电子装备可靠性的关键手段,严格执行型号的三级筛选管理规定,从源头上保证装备的可靠性和质量一致性是电子装备批产的关键。在航天、航空、兵器等高端装备领域,任何一个元器件的早期失效都可能导致整个系统的任务失败。因此,通过一系列严格的筛选试验,剔除具有潜在缺陷的器件,确保上机使用的元器件均达到设计要求的可靠性水平,是保障国防和工业装备长期稳定运行的基石。

我们的优势

实验室拥有国内外先进的测试设备2000余台(套),可满足常用各类元器件测试需求,具备通用元件、半导体分立器件、集成电路、光电子器件、机电组件、微波器件等常见元器件的全套筛选试验能力,核心技术能力包括筛选方案制定、老炼程序开发、老炼板制作、ATE测试程序开发等。客户范围覆盖航天、航空、电科、兵器、船舶等1000余家单位,服务能力和质量得到客户广泛认可。

免费获取认证方案

注意:每日仅限20个名额

今日已申请 8人
张先生 138****5889 刚刚获取认证方案
李女士 159****5393 3分钟前获取认证方案
王经理 186****9012 7分钟前获取认证方案
赵总 135****7688 12分钟前获取认证方案
刘先生 139****7889 18分钟前获取认证方案
陈女士 158****1887 25分钟前获取认证方案
杨经理 187****6696 30分钟前获取认证方案
周总 136****0539 35分钟前获取认证方案
今日还剩 12个名额
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