焊点疲劳可靠性正向设计

焊点疲劳可靠性正向设计

专业提供焊点疲劳可靠性正向设计服务,通过有限元仿真对芯片焊点在热循环(TCT)和随机振动条件下的疲劳寿命进行预测。依据IPC-SM-785、MIL-STD-810标准,结合实测数据校准,加速产品迭代,提升封装可靠性。

服务内容

板级TCT仿真评估:根据设计文件进行仿真模型的建立,求解客户送样芯片在不同热循环条件下的热疲劳寿命,得出热循环寿命与改善方向预计。

服务内容

· 封测工厂   · 封装设计公司   · 芯片设计公司   · 终端客户

检测标准

(1)IPC-SM-785 热循环标准;(2)MIL-STD-810G/Method 514.6 随机振动

检测项目

芯片TCT、随机振动寿命正向设计评估

相关资质

仿真团队具备国内外知名高校博士、硕士学历,具备多年行业经验。

测试周期

简单模型 7天;中等模型10天;复杂模型15天

服务背景

针对可靠性过程中的焊点开裂问题,如图1所示,利用仿真手段开展正向设计。提高产品正向设计能力,加速产品迭代速率,拒绝反复改版,提高客户行业竞争力!

焊点疲劳可靠性正向设计

我们的优势

汇策海沣检测是国内领先的封装可靠性委外评估机构,每年承接大量可靠性测试任务,积累了丰富的仿真回归校准数据。我们能够将实测结果与仿真模型进行交叉验证,持续优化仿真精度,为客户提供更接近真实工况的焊点疲劳寿命预测,助力提升产品正向设计能力。

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李女士 159****5393 3分钟前获取认证方案
王经理 186****9012 7分钟前获取认证方案
赵总 135****7688 12分钟前获取认证方案
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