集成电路动态老炼与测试

专业集成电路动态老炼与测试服务,覆盖处理器、存储器、AD/DA等大规模IC。通过施加特定测试向量与电热应力,高效激发并剔除不良品。满足GJB、AEC-Q100、JEDEC等标准,保障产品交付质量与长期可靠性。