集成电路失效分析
专业集成电路失效分析服务，针对先进制程及3D IC/Chiplet。综合运用电性测试、显微成像、成分分析等手段，精准定位栅氧击穿、电迁移、TSV互连失效等根源，助力设计迭代、良率提升与质量归零。
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