芯片及晶圆级TLP测试

芯片及晶圆级TLP测试

专业芯片及晶圆级TLP传输线脉冲测试,评估半导体器件ESD耐受能力。配备德国HPPI及ESDEMC系统,精准定位防护结构薄弱点,分析失效机制,为深层次失效分析与工艺改进提供关键数据。点击咨询!

服务内容

TLP(传输线脉冲),VFTLP(极快速传输线脉冲)

服务范围

集成电路(IC),分立器件,模块,晶圆

检测标准

ANSI ESD STM5.5.1-2016

检测项目

测试设备厂家测试项目
TLPHPPI (德国)

①脉宽:100nS

②上升沿:2nS,10nS

③最大脉冲电压:±2000V

④最大短路输出电流40A

VFTLPESDEMC

①脉冲宽度:1ns, 2.5ns, 5ns, 10ns, 100ns, 1000ns

②上升时间:0.1ns, 0.2ns, 0.6ns, 1ns, 10ns

③最大脉冲电压:±2000V

④最大输出电流40A

相关资质

实验室已获得专业的检测资质认可(CNAS),质量管理体系完善,确保所有TLP测试数据的准确性、可重复性与权威性。出具的检测报告在行业内具有高度公信力,可为客户的ESD防护设计提供有力支撑。

测试周期

1~3个工作日

服务背景

传输线脉冲测试,主要用于评估半导体器件在静电放电(ESD)事件中的耐受能力。与传统的ESD测试不同,TLP测试能提供更详细的电流-电压特性,TLP测试可定位防护结构薄弱点,帮助分析器件的失效机制。晶圆级的测试在晶圆制造过程中进行测试,这对于早期发现问题、加速研发周期,减少反复试验的成本,提升产品可靠性及研发效率非常重要。是深层次失效分析及工艺改进的关键工具。

我们的优势 

汇策海沣检测拥有资深ESD技术团队,具备专业认证及多年实战经验;搭载进口高端TLP/VFTLP系统,精度达国际领先水平;集成全流程测试能力,支持芯片至晶圆级分析,提供高效精准的一站式解决方案。

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张先生 138****5889 刚刚获取认证方案
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